纳米鳞甲

分散SNOM)

La técnica s-SNOM比例ciona información清醒的烛光ópticas de La región一个纳米escala de La muestra

Microscopía óptica de campo cercano de dispersión por infrarrojos (s-SNOM)

Esta técnica比例información清醒的烛光ópticas complejas de la región de nanoescala de la muestra bajo una punta metalizada。Específicamente, tanto la amplitud óptica como la fase de la luz spread se pueden medir。健康模型,健康药物评估系统ópticas (n, k)物质。Además, la fase óptica front a la longitude de onda proporcionona una buena aproximación a un espectro de absorción IR常规事件。

La técnica s-SNOM功能区在各种各样的材料中,pero La maijor señal al ruido tiende a星在材料中más duros con alta reflectividad, altas constantes dieléctricas y/o共振ópticas fuertes。Los nanoIR3-s de Bruker比例una平台理想para las capacidades s-SNOM,消除la必要de alineaciones ópticas complejas:

  • La dirección de haz适应专利和和las ópticas反映允许的条件下,兼容性的经度,消除的时间realineación y和不同的经度,不同的经度
  • El control dinámico男性专利的权力señal óptimas在财富的权利的权力,经度的权利和记忆
  • la sondas premonadas y la alineación punta motorizada, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización la sonda

10nm Resolución Espacial De Imágenes Químicas y spectroscopia

Plasmónicos德格拉夫诺

imágenes等离子体激元表面极化子(SPP)在cuña格拉夫诺。(izquierda) fase s-SNOM con una sección横向de línea de la onda de派SPP;(derecha)振幅s-SNOM。La imagen superior es una vista 3D de La imagen de fase (izquierda)。

Asignación上天保佑resolución

La sección横向a través de La escama de grafeno muestra imágenes de丙路ópticas de resolución de menos de 10纳米。

分光光镜纳米红外中影

分光光镜IR SNOM de mayor rendimiento con la fuente láser nanoIR más avanzada disponible。

  • 光谱纳米FTIR con DFG集成,富恩特láser basada en continuo
  • Integración de fuente de luz sincrotrón de banda ancha
  • 富恩特láser QCL多芯片对分光仪imágenes químicas
分光镜SNOM de dispersión de banda ancha ultrarrápida que sondea información振动分子。雷竞技怎么下载El干涉图láser de四氟乙烯(PTFE) muestra una vibración分子的形式内聚de descomposición de inducc雷竞技怎么下载ión自由的时间(arriba)。La característica重新计算干涉图de muestra se debe a La paliza del modo simétrico y antisimétrico de los modos C-F en el domino de recuencia resultante (abajo a La izquierda)。La sensibilidad monocapa de纳米ftir se demuestra en un pNTP monocapa (abajo a La derecha)。Datos cortesía del Markus Raschke教授,科罗拉多大学,博尔德,ESTADOS Unidos。

结合S-SNOM和AFM-IR para crear nuevos datos

7,12045('16)。Doi: 10.1038 / ncomms12045

Las imágenes互补AFM-IR y散射SNOM revelan, por primera vez, los orígenes a microescala de la quiralidad óptica en estructuras plasmónicas。Al acceder tanto a la información radiativa (s-SNOM) como a la no radiativa (AFM-IR)清醒地震plasmónicas, se pueden obtener丙edades plasmónicas únicas y互补。

nanoIR3-s se extiende más allá del nanoIR a visible y THz y haz de sincrotrón

  • nanoIR3-s permite imágenes SNOM可见
  • El sistema admite imágenes tHz y分光
  • Diseño特别不可否认的para su uso en sincrotrón
  • Fácil cambio sobre la configuración láser para maximizar el timempo de medición
  • sensenillo de componentesópticos y探测
Imágenes可见con s-SNOM usando láser HeNe de 633 nm。

Eliminación de la need de alineaciones ópticas complejas

  • La dirección de haz适应专利和和las ópticas反映允许的条件下,兼容性的经度,消除的时间realineación y和不同的经度,不同的经度
  • El control dinámico男性专利的权力señal óptimas在财富的权利的权力,经度的权利和记忆
  • la sondas premonadas y la alineación punta motorizada, muestra y fuente eliminan los pasos tediosos en la instalación y re-optimización la sonda