PeakForce KPFM
行业领先的空间分辨率和artifact-free潜力对比
PeakForce KPFM™提高测量的性能比传统KPFM技术通过提供最高的表面潜力的空间分辨率和最精确的测量。这些改进取得的新组合PeakForce攻®模式,扫描算法和力量的独特内部调查进展。
独特,PeakForce KPFM提供最准确的probe-to-probe表面电位测量,使测量在不同的材料类型一致。它可以使用PeakForce攻QNM®同时,纳米尺度的地形高度相关,电气和机械性能映射在一个广泛的样本。PeakForce KPFM也克服了传统KPFM技术的重大易用性问题在ScanAsyst操作®模式,使高品质的所有经验层次的用户数据。
PeakForce KPFM交付:
- 最精确的、可重复的和敏感的功函数的测量
- 领先的空间分辨率结合artifact-free潜在的对比
- 相关定量纳米机械属性映射
PeakForce KPFM潜在的地图MDMO-PCBM散装异质结太阳能电池在ITO衬底在黑暗下(下半部分)和照明的强度相当于300个太阳(上半部分)。(样品由菲利普·莱克勒博士,蒙斯大学)。
