维FastScan
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维FastScan
维FastScan®原子力显微镜(AFM)系统是专门设计用于快速扫描分辨率,力的控制,增加了复杂性,或额外的运营成本。FastScan你实现直接的AFM图像的预期高分辨率高性能AFM。你是否扫描在> 125赫兹时测量样品找到感兴趣的地区,或在时间的秒的每帧图像空气或液体,FastScan重新定义了AFM的经验。
Caracteristicas
基准高速度和高分辨率
维度FastScan是第一个也是唯一高速tip-scanning系统,实现帧每秒扫描利率决议或者系统性能的前提下,独立的样本大小。没有其他高速AFM FastScan的大样本访问。再加上PeakForce攻®,该系统实现了瞬时力测量线性控制回路,使点缺陷尺寸和机械分辨率,而不只是在努力,平坦的晶体。
非凡的生产力
维度FastScan的方方面面——从开放的提示和示例使用预配置软件设置-已经专门为无故障设计,操作简单。快速样品导航,快速,快速扫描,低噪声,每分钟少于200点的漂移速度小时,扩大直观的用户界面,和世界著名的维平台结合在AFM提供一个全新的体验,同时确保高质量的数据和更快的结果和出版时间。FastScan用户可以立即实现高质量的结果没有通常的小时的专家调整。
更多的应用程序和新见解更快
样品测量是一种常见的方式去探索未知的样本要理解异质性,独特的功能特点、和机械性能。FastScan抽样调查的结果,产生了一套高质量的图像从高分辨率的地形图像20μm地区部分小于原始扫描10倍。结果从一个8分钟扫描16像素的数据在多个频道,清晰观察到的高分辨率数据。
由毫微秒示波器6 AFM控制器
以更高的速度,降低噪音,和更大的AFM模式灵活性,毫微秒示波器6控制器允许用户利用我们的潜能和多模AFM系统高性能的维度。这个最新一代控制器提供了前所未有的精度、精度和多功能性纳米表面测量在每个应用程序。
毫微秒示波器6独特使力量afm:
- 在成像模式比经营与竞争系统是可能的,包括独特的和先进的AFM模式,需要复杂的控制和分析;
- 收集准确、定量数据nanoelectrical在每个应用程序和纳米机械特性的测量;和
- 优化和定制扫描参数,以满足即使是最苛刻的研究和工业测量的要求。
Aplicaciones
扩展你的应用程序与AFM模式
无与伦比的套件的成像模式可用,力量有一个AFM技术对于每一个调查。
建立在核心的支柱成像modes-Contact模式和利用Mode-Bruker提供了AFM模式,允许用户调查样本的电、磁或材料属性。雷竞技网页版力量的创新PeakForce攻技术代表了一个新的核心成像模式,被纳入了模式,提供地形、电气和机械性能数据并行。
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Testimonios
听听我们的客户不得不说
我们一直使用力量Fastscan AFM超过两年。在我们的经验中,Fastscan快4到5倍没有退化图像分辨率相比其他afm。此外,ScanAsyst模式与智能汽车扫描参数调整使我们能够轻松快速浏览许多样品。上级Fastscan AFM表现先进我们组与DNA纳米技术研究的许多出版物的声誉。
