硅半导体的x射线计量
力量提供世界上最先进的和非破坏性薄膜测量x射线技术解决方案。我们描述的解决方案涵盖全系列的处理逻辑与记忆。我们提供专业的系统识别衬底epi的缺陷和执行前端的线路控制电影和high-k电介质,以及专用的仪器分析电影和wafer-level包装金属疙瘩。这些系统也经常执行其他半导体计量申请硬盘驱动器材料,氮化镓在Si电力晶体管和压电薄膜成分和监控阶段。雷竞技网页版
支持
我们如何帮助?
力量合作伙伴与客户解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择合适的系统及配件。这种伙伴关系继续通过培训和扩展服务,很久以后销售的工具。
我们的训练有素的团队的支持工程师,科学家和应用主题专家是完全致力于最大化工作效率与系统服务和升级,以及应用程序的支持和培训。