三维表面测量
历史、发展、优势和应用程序
三维表面测量(三维表面测量)被工业部门和科学界推动关键研究项目的成功,重要的发展,基本产品和过程控制。三维表面测量参数(参数)被定义在1991年第一个电子商务研讨会的与会者和已经开发了符合ISO标准来补充传统的2 d(二维)计量R参数。
表面具有类似甚至相同的平均表面粗糙度值(Ra)可能会有截然不同的地形表面。为了更好的quanitify和区分这些类型的表面,行业已经开始开发三维(3 d)。
三维表面测量最初的定义
早期作品的开发标准,全球三维表面测量参数完成了欧洲联盟。他们的工作导致四大类:振幅,空间,混合和功能。
振幅参数是基于整体的高度和包括均方根高度分布、偏态(或表面高度分布的不对称性的程度),表面高度分布的尖峰程度(或峰度),平均最高和最低分。
空间参数是基于频率的特征,包括一个表面的纹理方向、纹理纵横比和峰会的密度。
基于身高和频率的组合,混合参数包括均值峰会曲率,开发面积比率,和表面的均方根斜率。
最后,功能参数包括几个参数基于特定函数的适用性。
三维表面测量如何发展
初始电阻使用三维表面测量的技术最终克服作为研发工程师花时间充分理解三维表面分析的优势,转变成为明显的S参数被越来越多的图纸和供应商被规范。
发现3 d表面参数有助于提高沟通和允许一个进程控制,传统的R参数不能独自完成它。
3 d表面参数2 d参数无法区分开来
表面具有类似甚至相同的平均表面粗糙度值(Ra)可能会有截然不同的地形表面。为了更好的quanitify和区分这些类型的表面,行业已经开始开发三维(3 d)标准。
现代三维表面测量
现代三维表面测量给了工程师,流程设计人员,质量控制人员显著提高工具包来描述表面自独特的分化不仅表面形状三维测量功能。所有这一切,最终导致更好的表面性能。
