HysitronXPM
量化超高速机械属性映射
500x快速纳米缩进
布鲁克XPM设计新行业标准 纳米机测试吞吐量配制测量分辨率和精度XPM使用传统纳米缩进法全年收集的数据比单下午多实现这些排他性能的三大行业领先Hysitron技术并发:高频电动传感器、快速控制数据采集电子设备以及自上而下自上方SPM成像同步技术每秒可执行6纳米缩进测量法,以创记录时间实现综合量化纳米属性图和财产分布统计
快速映射强机械分布统计
陶器矩阵复合模数地图由67秒内400测量组成(左转)。陶瓷矩阵复合模数分布统计
纳米机械测试专门开发以测量高度局部性机械特性单个测量数组可按空间排列并绘制地图,绘制横跨表面机械属性梯度图保守地说,传统的纳米缩进测量需要~90秒,20x20阵列需要10小时完成使用Hysitron XPM超快属性映射时,
