高分辨率原位SPM成像
优异的纳米力学测试结果
Bruker是原位扫描探针显微镜(SPM)成像的先驱，该成像将纳米力学和纳米摩擦学表征与高分辨率SPM成像直接结合起来。原位SPM技术利用与进行测试时相同的探针对样品表面进行成像，允许在不离开测试位置的情况下快速在现场收集图像。布鲁克的原位SPM成像本质上提高了测试的准确性、可重复性和速度，因为非原位成像方法(如并行操作AFM)需要额外的时间将样品移动到另一个成像位置，并提出了与所需测试位置的可靠定位相关的重大挑战。
10 μm扫描尺寸，1024 × 1024分辨率，陨石样本地形图像。
垂直轴和水平轴的扫描尺寸和分辨率可独立更改:30 μm x 30 μm扫描尺寸，256 × 256分辨率(顶部);且扫描尺寸为60 μm × 30 μm，分辨率为512 × 256(下)。
纳米精度测试放置精度
Bruker的原位SPM成像提供了与测试相同长度尺度的成像分辨率，能够在纳米尺度上实现真正定量和准确的表征。测试前SPM成像能够以纳米分辨率直接测量表面形貌(例如微观结构、形貌、粗糙度)，对于在测试前避免表面缺陷至关重要。高精度±10nm测试位置精度简化了多相材料的测试，并允许微观结构(例如形状，尺寸或区域分布)与力学性能直接相关。雷竞技网页版此外，测试后SPM成像提供了材料变形行为(例如断裂、堆积)的定量表征和测试布置的验证。
分辨率高达4096 x 4096
Bruker的SPM+将纳米机械SPM成像能力提升到一个全新的水平。借助SPM+，扫描尺寸和图像分辨率完全可定制，以满足您特定的样品分析需求。
