纳米ECR
原型纳米电阻
行人纳米
当前比移位曲线和相联电流测量从缩进Si显示相抗性变化
电接触抗药性测量与纳米缩放相结合,为纳米级接触抗药性进化和材料变形行为提供宝贵的新洞见通过传导纳米标识器探针传递流时,纳米级电气特征可确定为应用探法力函数并探向采样表面移位除量化测量纳米级电路特征外,还可在薄膜骨折、变形核素变换转位法、接触抗药性、疲劳症、二极管行为、隧道特效、波电响应、相位变换等领域获取新洞见
单缩进实验中从不同负载获取数数列电流曲线
现场电气和纳米缩放测量
布鲁克纳米ECR使用布鲁克专用电容转换器新模型经修改后提供电路,从样本偏移阶段到传导缩子探针,以便能够持续测量电接触条件演进,视之为应用力探移位函数纳米ECR在高控应用负载或检测置换条件下操作常压或I-V扫描
