ScanningWear

磨损模式是由光栅扫描样本与给定的力,预定义的用户。扫描可能包含一个或多个传递经过同一地区在一个测试。

通过施加一个已知力并选择通过的数量,这个力,删除的材料在磨损扫描可以测量使用原位成像技术检测后。

ScanningWear使能够穿在不同的加载和执行几个穿一个样本实验显示在图1。这个实验涉及到几个人穿测试在增加负载的数量和通过硬盘的DLC薄膜涂层。在每个磨损试验的材料去除量测量使用原位成像(参见图2)。

原位SPM图像提供的精确定位也使nanomachining和nanopatterning表面,如图3所示。在这项研究中,两个穿模式nanomachined氧化镧。一个模式由一个5μm x 5μm广场,另一个是1.25μm x 5μm矩形。模式被小于1μm分开,氧化层被选择性地揭示了衬底。