玻璃工业

为了满足其后期使用的要求，将不同类型的材料混合或溶解在原玻璃中。这一过程以及原料分析可以由x射线荧光分析(XRF)，取决于元素和浓度范围的EDXRFS2彪马或WDXRFS6捷豹．

为了对玻璃或金属涂层的最终状态进行无损分析，或对感兴趣的特定元素的空间分布进行分析，微xrf技术如M4龙卷风,M4龙卷风+或者是QUANTAX Micro-XRF用于扫描电镜都是非常适合的分析方法。

如果需要更高的空间分辨率，扫描和透射电子显微镜(SEM和TEM)可以提供极高的分辨率，并有机会使用布鲁克QUANTAX系统进行能量色散光谱测定(EDS)进行无机材料分析。使用波长色散光谱仪QUANTAX改进算法，由于其出色的能量分辨率和轻雷竞技网页版元素灵敏度，可以更好地确定低能量或轻元素范围内的挑战性材料。利用SEMQUANTAX EBSD(电子背散射衍射)系统，可以获得晶体取向图来了解晶体学和相边界，并研究材料的变形。雷竞技网页版

正是"玻璃态"的基本性质预示了传统的x射线衍射(XRD)提供敏感的结构信息-玻璃不具有晶体材料中存在的长程顺序。xrd与D8发现可以帮助表征在玻璃中发现的假夹杂物，因为它们通常是由结晶材料形成的。

由于各种原因，经常对原玻璃和金属进行镀膜。涂层可以防腐，硬化表面，可以反射热辐射或任何其他类型的光，或简单地使底层材料高贵。
掠入射x射线衍射(GID)D8提前有助于明确确定涂层的结晶成分。x射线反射仪(XRR)和micro-XRF技术能够无损地测定层厚，即使是次表面层。