地质分析SEM解决方案-第一部分

参加两部分的网络研讨会，涵盖扫描电子显微镜技术在地质应用中的各个方面。第一部分涵盖了SEM和EDS分析，而第二部分涵盖了EBSD, CL和样品制备。

第一部分-用于成像和成分分析的地质扫描电子显微镜

扫描电镜与x射线显微分析(EDS)相结合，为了解材料的形态和微观结构提供了强有力的工具。雷竞技网页版我们解释了如何优化扫描电镜和执行先进的微分析地质应用。托拜厄斯·萨奇博士，我们的特邀嘉宾，将回顾微量分析在地球科学中的应用。

这个45分钟的网络研讨会将以15分钟的问答环节结束，届时我们的专家将回答您的问题。

第二部分-利用EBSD和CL研究矿物的微观结构和化学性质

电子背散射衍射(EBSD)和阴极发光(CL)是完成矿物样品表征的重要工具，通过了解变形、相变、缺陷、晶体生长、带状、胶结和微量元素化学。由于这些技术具有表面敏感性，我们还将研究样品制备方法。

这个45分钟的网络研讨会将于9月10日举行^th最后是15分钟的问答环节，我们的专家将回答您的问题。第二部分的注册将很快开放。

• 地质科学和采矿研究人员
• 显微镜学家想要探索新的分析技术，如EBSD和CL
• 任何人考虑电子显微镜作为表征技术陶瓷，氧化物材料，矿物和类似的雷竞技网页版