量化的钢和合金的各种元素就会出现利益和浓度的范围从专业到痕迹。这个由两部分组成的网络研讨会将展示使用双光束系统的好处,也就是说,一个电子和一个系统micro-XRF源。此外,该系统还配备了一个能量色散光谱仪(EDS)和一个波长色散光谱仪(改进算法)。之前我本系列研讨会的一部分集中在双光束的来源,和各自的优势电子和光子激发x射线分析。第二部分将比较这些结果和测量使用WDS收集在同一个系统上。我们将增加价值表明,改进算法结合分析当某些微量元素或光感兴趣的元素,当峰重叠存在或者高空间分辨率是必需的。样品用于这次研讨会的一系列认证与变量浓度的铬和镍钢,预期对于那些用于工业,以及量化小和微量元素,如铜、钼,年代,Si, Al P, N和c .结果显示使用的功能和好处多探测器系统双重来源。研讨会将圆了一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。
Stephan Boehm
产品经理micro-XRF SEM和改进算法,力量纳米分析
Michael Abratis博士
老应用科学家,力量纳米分析
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