x射线荧光(XRF)测量被广泛认为是在保护、修复、认证过程中诊断的关键步骤,或者在解决艺术品周围的历史问题时。
仪器的硬件特点和性能只是数据采集的第一步。为仪器设计的软件包使用户能够从采集的数据中提取额外的信息。我们想把这种数据处理方法带到中心舞台。
最近发布的ESPRIT Reveal软件是一个易于使用的工具,它为元素组成的调查提供了广泛的功能-不仅提升了定性信息,而且还提供了定量数据的可靠计算。
在本次网络研讨会中,我们将继续介绍ESPRIT Reveal的核心功能,将重点转移到支持高级元素识别和量化的最先进和最复杂的功能上。
亨宁博士Schröder
产品经理micro-XRF,布鲁克纳米分析
罗尔德·塔格尔博士
布鲁克纳米分析公司Micro-XRF高级应用科学家
米歇尔Gironda
布鲁克纳米分析公司艺术与保护市场细分经理
*注册表格是优化的浏览器谷歌Chrome。两次会议的内容是相同的。