XFlash 6 - 10
最佳分辨率SDD
XFlash 6-10探测器
最新一代x射线探测器的核心部件是根据漂移室原理工作的硅芯片。
由于特殊的芯片设计与集成电荷放大器XFlash®可以处理非常高的计数率，同时显示一个优秀的能量分辨率，无与伦比的任何其他硅基能量色散x射线探测器。
总之，XFlash®6-10有以下优点:
- 卓越的能量分辨率(限量版Mn Kα下121 eV, C Kα下38 eV, F Kα下47 eV)
- 在Mn Kα下，其他可用的分辨率为123、126和129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 卓越的轻元素和低能量性能(Be - Am元素范围)
- 没有精密的振动冷却系统
- 上电后立即可用
- 运营成本低
- 不需维护的操作
- 小尺寸，包括纤细的技术手指
- 低体重
XFlash的建议应用领域®6 - 10:
- SEM，微探针，FIB-SEM的EDS系统(焊接波纹管可选)
- 轻元素和低能量程分析