XFlash 6 - 100

非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。的XFlash^®6-100用于信号有限的情况。例如，当分析非常敏感的样品或使用冷- feg扫描电镜时，就会出现这种情况。大的100毫米²活动区域和狭窄的端盖提供了最大的立体角，即使在这些不利条件下也能在短时间内获得光谱。同时XFlash^®6-100具有与小型探测器相同的高计数率能力(输入时最高可达1500 kcps)，使其成为真正独特的EDS分析仪器。

总之，XFlash^®6-100有以下优点:

• 良好的能量分辨率(Mn Kα 129 eV, C Kα 57 eV, F Kα 67 eV)
• 极高的脉冲负载能力
• 良好的轻质元件和低能耗性能(元件范围Be - Am)
• 没有精密的振动冷却系统
• 上电后立即可用
• 运营成本低
• 不需维护的操作
• 小尺寸
• 低重量，包括纤细的技术手指

XFlash的建议应用领域^®6 - 100:

• SEM，微探针，FIB-SEM的EDS系统(焊接波纹管可选)
• 低束流和灵敏样品分析(带冷场发射器的sem)