XFlash 6T-100椭圆形
STEM高采集角EDS系统
这种面积大，采集角度高，无窗EDS检测器椭圆形100mm2SDD为每个合适的杆件几何形状精心定制。独特的外形和最先进的细线设计可以优化采集几何，以适应非常具体的改造条件。
在超过13°起飞角的STEM中，用于x射线收集的固体角度可达0.7 sr，提供原子柱元素映射和单个杂原子识别[1,2]。
[1]室温多铁材料中磁性离子分配的直接原子尺度测定(开放)
科学报告7，(2017)论文编号:1737;作者:L. Keeney等。
[２]单杂原子的x射线光谱鉴定(开放)
应用物理快报第108卷，第16期，163101 (2016);作者:R. M. Stroud, T. C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde和O. L. Krivanek
总之，XFlash®6T-100椭圆型具有以下优点:
- 100毫米2区,没有窗户
- 固体收集角可达0.7 sr，适应性不同
- 起飞角度高达13.4°，适应变化
- 特高压兼容
- X-ray-tight快门
- 无干扰冷却系统
- 优秀的低能性能，需要分析轻元素和重叠的L-， M-，…在低能区的高Z元素线
- 布鲁克多才多艺的所有优点分析软件
XFlash的建议应用领域®6T-100椭圆形有:
通过TEM和STEM中的EDS进行高端元素分析，包括像差校正电镜，旨在:
- 原子分辨率
- 快速数据采集
- 微量元素分析