XFlash 6 t-60
纳米尺度及以下透射电镜分析的大固角SDD
XFlash 6T-60探测器
介质活动面积60mm2芯片安装在纤细的探测器手指提供了一个大的实心角度和高起飞角度。的XFlash®因此，6T-60适用于x射线产量相对较低的应用，例如原子分辨率光谱分析，必须保持区域轴，因此样品不能倾斜的实验，以及光束敏感的样品(如石墨烯、生命科学)。该探测器在Mn Kα下的能量分辨率为126 eV。
总之，XFlash®6T-60具有以下优点:
- 良好的能量分辨率(Mn Kα下有126 eV, C Kα下有51 eV, F Kα下有60 eV)
- 其他可用的分辨率为129ev在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优良的轻质元件和低能耗性能(元件范围Be - Am)
- 焊接波纹管为标准
- 没有振动冷却系统
- 上电后立即可用
- 不需维护的操作
- 运营成本低
- 小尺寸，包括纤细的技术手指
- 低体重
- 无视窗版本可按要求提供
XFlash的建议应用领域®6 t-60是:
- 低x射线产量应用于TEM和STEM，包括像差校正电子显微镜