QUANTAX EDS TEM
XFlash®7T -看纳米的颜色:TEM和SEM的STEM EDS
单原子与纳米结构
为每个特定的显微镜获得最好的结果
做marquants
80
凯文
前所未有的能量上限
明确识别和量化所有现有元素
3.
TEM-quantification模型
成功的TEM, STEM和T-SEM，基于理论和实验Cliff-Lorimer因子，以及zeta因子插值，易于使用的强大量化
1
一个
稳定的解决方案
映射具有高稳定性的周期结构(原子，层)，并使用增强的漂移校正功能
纳米尺度的透射电镜元素分析
灵活易用的分析软件包ESPRIT与一个开放用户界面你看你做了什么。
离线分析选项为学生或实验室网络提供个人或局域网接入。
老练老练定量能量色散x射线能谱对于完整的数据挖掘包括:
- 量化步骤的选项:默认建议，方便使用，个人设置，详细修改和保存/重新加载食谱
- 3种不同的量化方法涵盖所有可能的场景基于理论和实验的Cliff-Lorimer因子、zeta因子以及缺失zeta因子的插值
- tem专用高能元素线超过40 keV可用于量化，确保明确的结果
- 的选择3个重要的背景模型:大块的物理模型和薄薄片的物理模型，并建立了数学模型
- 吸收校正已经被克里夫-洛里默量化了
优点之一
电子透明样品在TEM、STEM和SEM (T-SEM)中的高分辨率元素分布分析
- 长期在EDS的专业知识，确保配置为您的特定显微镜(STEM, TEM或SEM)提供最佳解决方案得益于纤细的探测器设计和每个显微镜极片和EDS法兰类型的几何优化
- 允许最大的采集和起飞角度快速、高灵敏度的数据采集
- 快速移动稳定检波器级
- 一个特殊的漂移校正程序的周期性特征确保成功的纳米级EDS
- 用于原位实验的时间分辨数据采集适用于高温下保存不断变化的数据流
- 自动化的数据采集和分析过程，使用脚本和API选项生成具体分析工作而且批处理
- 干净的数据，不需要或最小的采集后修正由于完全避免了机械和电磁干扰，避免或保持最小的样品倾斜，吸收，阴影和系统峰值
- 最老练的EDS数据量化从市场上的电子透明标本提供了彻底的数据挖掘和明确的结果
- 最高质量的援助和培训由于在TEM方面的长期经验，可以充分利用您的系统
应用程序
最终的结果与新的XFlash®7个用于TEM的EDS检测器
©图片和样品由Michael Malaki, Shamail Ahmed提供;马尔堡菲利普斯大学物理系材料科学中心
包覆锂离子电池阴极粒子的能谱分析
采用涂层结构可以提高电池正极材料(SSB和LIB)的电容保持性能。为了控制这些纳米厚涂层的性能，必须知道它们的元素分布。我们提出了一种基于sem的EDS分析解决方案，在微米大小的不规则表面阴极颗粒上实现纳米分辨率，并将其与TEM EDS进行比较。
