勘探和开采的双源应用:含金低温热液样品

结合micro-XRF与SEM能够在一个单独的系统内分析多个尺度的样品，从厘米(cm)到毫米(mm)到微米(µm)及以下。因此，通过将micro-XRF添加到SEM转换为双源系统，这意味着有两个激励源，电子束和光子束。任何一种光源都可以单独使用，也可以同时使用，以生成x射线样本，并使用相同的EDS探测器进行测量。此外，可以利用每种分析技术的优点:(i) XRF源具有非常低的背景，这意味着可以观察到低至10ppm的元素浓度(取决于元素和基质)，以及更大的信息深度，这意味着有可能看到样品表面下的结构或元素。例如，即使在非常低的浓度下，也可以检测到表面以下的夹杂物;(ii)电子束可以聚焦到极小的区域，并产生极高分辨率的信息。

这样的组合现在可以在单个系统中创建新的工作流。例如，使用微x射线荧光光谱可以快速扫描大型岩石样品，在这种情况下，来自Karangahake低温热液矿床的含金spimen。这使得识别感兴趣的区域，包括含金晶粒(图1和图2)。随后，可以使用电子束以更高的分辨率分析这些“感兴趣的区域”(图3)。因此，这种双束系统可以同时识别大尺度(cm到mm)的相关信息，从而能够有效和准确地执行详细的小尺度(mm到µm)。