M6的地方
高清晰度大面积微xrf扫描仪
移动元素分析
超快的映射
做marquants
2 x60
mm²
SDD大小
双硅漂移探测器选项，最快的采集
80年x60
cm²
能扫描的表面
在一次运行中映射更大的样本
100 - 500
µm
光斑大小可调
光斑大小可以在五个步骤中调整，以匹配样品的结构
大面积微xrf技术的最新进展
大样品上的Micro-XRF(也称为macro-XRF或MA-XRF)已成为绘画、地质样品、考古文物和工业部件分析的决定性方法。M6 JETSTREAM驱动这些分析达到最高的速度和精度。M6 JETSTREAM具有可移动的轴距和可调节的框架，可以在现场使用，而不是将样品运送到实验室。
- 竖直样品或水平表面的测量
- 可扫描面积达800 x 600 mm²
- “在飞行中”分析，以获得最高的绘图速度
- 可调光斑大小，以配合样品的结构
- XFlash®SDD技术，探测器面积可达2 x 60 mm²
- 可选孔径管理系统(自动对盘及成交系统)，以便在凹凸不平的表面上获得对焦深度
优点之一
你对M6 JETSTREAM有什么期待?
李金华等，尖齿恐龙甲年华龙腾gi的显微xrf研究揭示了新的生物学和埋藏信号，原子光谱学2021 42(1)
- 获得关于几乎任何表面元素分布的空间解析信息
- 在一次运行中记录大面积的数据
- 在一个HyperMap数据集中结合高分辨率光学图像和每个像素的全光谱
- 处理数据并从地图中提取物体光谱、线扫描和化学相
- 使用非标准基本参数(FP)方法量化光谱
- 通过避免物流和确保贵重物品的安全，减少成本和时间
应用程序
规范
技术细节
| 最高可达100mm /s级速度 | 映射可以“动态”进行，停留时间可降至每像素1毫秒 | ||
| 30mm²或60mm²SDDs≤145ev | M6 JETSTREAM可以配备不同的Bruker XFlash®探测器，所有指定在Mn Kα≤145 eV | ||
| ±10°倾斜垂直测量模式 | 除了水平和垂直测量之间的90°倾斜外，钻机还可以按精细步骤倾斜以适应斜面 |
