原子力显微镜

维XR

极端nanomechanics研究系统,nanoelectrical nanoelectrochemistry

做marquants

维XR

力量的维度XR扫描探针显微镜(SPM)系统将数十年的研究和技术创新。与常规原子缺陷分辨率,和独特的技术包括PeakForce攻®,DataCube模式,SECM AFM-nDMA,他们提供最大的性能和能力。维XR系列spm包这些技术到交钥匙解决纳米机械,nanoelectrical,电化学的应用程序。量化材料和活跃的纳米系统空气,液体,雷竞技网页版电子或化学反应环境从来都不是一件容易的事。

高光谱
nanoelectrical表征
包括最完整的电气AFM技术特性的功能材料,半导体和能源研究。雷竞技网页版
子- 100 nm
电化学成像
总解决方案提供了最高分辨率,定量分析当地的电化学活性与电池,燃料电池,和腐蚀。
开箱即用的
纳米机械分析
提供完全量化,交钥匙套件的技术关联结构和纳米机械性能的材料。雷竞技网页版

的特性

使第一个也是唯一AFM功能与性能最高

优化配置先进的研究

XR Nanomechanics

XR Nanomechanics提供一系列的模式,全面检测最小的结构与空间分辨率sub-molecular单位的聚合物链。雷竞技怎么下载研究人员关联nanomechanics数据批量DMA和nanoidentation方法与我们的专有AFM-nDMA™模式。实现可量化的纳米表征从软粘水凝胶和硬金属和陶瓷复合材料。

XR Nanoelectrical

维XR Nanoelectrical配置覆盖最广泛的阵列电AFM技术在一个单一的系统。研究人员在每个像素相关捕获电子光谱与机械性能测量专有DataCube模式。这个系统提供了以前无法实现的信息从一个单一的测量。

XR Nanoelectrochemical

nanoelectrical配置使健壮AFM-based扫描电化学显微镜(AFM-SECM)和电化学AFM (EC-AFM)。AFM运营商获得电化学信息与< 100纳米的空间分辨率和执行同时电化学,电气、机械映射在一个单一的系统。

最高分辨率为所有的模式,所有的环境

从缺陷点液体和刚度在空气和导电性原子分辨率的地图,地图维度XR系统交付所有测量的最高分辨率。他们利用力量的专有PeakForce攻技术实现硬和软物质的性能基准,包括晶体缺陷分辨率和聚合物分子缺陷。雷竞技怎么下载同样的技术中发挥着同样重要的作用在解决最小的表面微凸体在粗糙玻璃在数以百计的图像。系统结合PeakForce攻和极端稳定、独特的探测技术,在提示扫描创新力量的几十年的经验。结果是最高分辨率成像一致,完全独立的样本大小、重量、或中期和任何应用程序。

革命AFM-nDMA

高分辨率的储能模量地图四分量(COC、PE、LLDPE、弹性体)聚合物(左)。储能模量光谱收集个人点(右)。

第一次AFM可以提供完整和定量粘弹性聚合物在纳米尺度上的分析,探索材料流变相关频率,在线性政权。雷竞技网页版专有的双通道检测、phase-drift校正和参考频率跟踪使小应变测量流变有关0.1赫兹20 kHz范围纳米测量的储能模量,损耗模量和损耗角正切,领带直接批量DMA。

专有DataCube模式

这些模式使用FASTForce体积在每个像素执行force-distance谱,一个用户定义的停留时间。使用数据捕获率高,大量的电子测量在停留时间执行,导致机电在每个像素光谱。DataCube模式提供完整的描述在一个实验中,在商业AFM是闻所未闻的。

维XR DataCube模式提供多维纳米级信息在每一个像素,同时捕获在一个测量电气和机械特性。
DCUBE-PFM测量清楚地显示了域烙在不同的潜在水平为每个离散像素BiFeO3薄膜。

独家PeakForce SECM

(A)力量的专属premounted PeakForce SECM探针提供简单和安全的处理,以及非常稳定的性能超过小时的成像和多个清洗周期。(B)探针的扫描电镜图像;(C) COMSOL模拟10毫米[俄文(NH3) 6] 3 +简介;(D) 1日、25日和50 CVs选择从50连续扫描的扫描速率20 mV / s;在-0.1 V (E) 2小时测量电流的测试与AgQRE,插图放大从70年到120分钟。和(F)模拟(虚线)和实验(实线)逼近曲线。C和E图像由C .香和陈y,加州理工学院。

空间分辨率小于100纳米,这种模式下重新定义什么是可能的在纳米电子和化学过程的可视化液体。PeakForce SECM大大提高,通过数量级,分辨能力比传统的方法。这使全新的能量存储系统,研究腐蚀科学和生物传感器,打开门新测量单个纳米粒子,纳米,纳米孔。,PeakForce SECM提供同步捕获的地形,与纳米电化学、电气和机械地图横向分辨率。

由毫微秒示波器6 AFM控制器


以更高的速度,降低噪音,和更大的AFM模式灵活性,毫微秒示波器6控制器允许用户利用我们的潜能和多模AFM系统高性能的维度。这个最新一代控制器提供了前所未有的精度、精度和多功能性纳米表面测量在每个应用程序。

毫微秒示波器6独特使力量afm:

  • 在成像模式比经营与竞争系统是可能的,包括独特的和先进的AFM模式,需要复杂的控制和分析;
  • 收集准确、定量数据nanoelectrical在每个应用程序和纳米机械特性的测量;和
  • 优化和定制扫描参数,以满足即使是最苛刻的研究和工业测量的要求。

应用程序

AFM模式

扩展你的应用程序与AFM模式

无与伦比的套件的成像模式可用,力量有一个AFM技术对于每一个调查。

建立在核心的支柱成像modes-Contact模式和利用Mode-Bruker提供了AFM模式,允许用户调查样本的电、磁或材料属性。雷竞技网页版力量的创新PeakForce攻技术代表了一个新的核心成像模式,被纳入了模式,提供地形、电气和机械性能数据并行。

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