x射线计量化合物半导体

拉德软件

x射线衍射测量分析软件,使快速、准确

力量拉德是业内最可信软件模拟和分析高分辨率x射线衍射(HRXRD)外延单晶基片上薄膜结构的数据。是选择的软件的研发、生产,在学术界,对简单和复杂结构的详细分析。

拉德软件为用户提供多种工具,使测量准确、快捷XRD分析。通过自动计算工艺参数,并立即处理反馈到生产,拉德软件而设计的改进过程和产生的结果。这个独家组合的特性使得拉德是自1991年以来主要过程监控与分析软件。

新功能

  • 主题的GUI,它允许用户选择程序的外观(比德,约旦河谷和一个混合的两个)
  • 增加了对保税SOI基板的支持
  • 提高了缺陷散射模型包括一个镶嵌模型以及随机原子位移的影响由于离子注入
  • 允许同时两个不同反射测量数据集上使用一个共同的结构模型
  • 包括各种参数的显示深度资料,如组成
  • 打印的报告可以在创建HTML、PDF、RTF、和各种其他格式
  • 改进的批处理功能
  • 支持多核处理器,能够被分配到任何特定的核心/ CPU。

规范

  • 采用x射线衍射(Takagi-Taupin)的动力学理论对准确模拟
  • 使用SSE2/3指令可以在现代处理器快速模拟。模拟和配件将运行x3-4快于v3。x在同一台计算机上。
  • 包括专利数据拟合技术,可靠的自动化分析多层结构
  • 容易使用的spreadsheet-style列表创建模型结构层(包括超晶格)
  • 允许任意组合的规范和应变资料层参数方程
  • 层参数链接来简化复杂的多层结构的分析
  • 丰富的内置和材料数据库,也可以用户自定义雷竞技网页版
  • 模型在非外延001立方材料,如层(110)和(111)的基板;雷竞技网页版还支持巴塞尔飞机(c-plane)面向六角材料雷竞技网页版
  • 模拟真实仪器条件
  • 复杂科学绘图和输出功能
  • 支持各种数据文件格式(inc .约旦河谷,比德,力量,PANalytical)
  • 对拟合结果写入关系数据库的支持
  • 多个实验数据文件的批处理分析
  • 提供了一个集成的宏语言和强大的自动化功能
  • 支持Windows XP, Vista和7