硅半导体x射线计量
布鲁克为薄膜计量提供世界上最先进的无损x射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存的整个处理范围。我们提供专门的系统，用于识别衬底缺陷，并对epi薄膜和高k介质进行前端线控制，以及用于分析金属薄膜和晶圆级封装凸点的专用仪器。这些系统也经常执行其他半导体计量应用的硬盘驱动器材料，氮化镓硅功率晶体管，以及PZT薄膜组成和相位监测。雷竞技网页版
支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务继续下去，直到工具出售很久之后。
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用程序支持和培训，最大限度地提高您的生产力。