布鲁克的Dektak®触控笔分析器是超过五十年的专有技术进步的高潮。它们提供可重复,可靠和准确的测量-从传统的台阶高度测量和2D粗糙度表面表征到先进的3D映射和薄膜应力分析。从学术研究到半导体工艺控制的各种应用领域,德德表面轮廓仪已被广泛接受为测量薄膜厚度,应力,表面粗糙度和形状的金标准。
Dektak品牌拥有第一台用于薄膜测量的分析器,第一台基于微处理器的分析器,第一台具有3D功能的分析器,第一台基于pc的分析器和第一台自动化300mm分析器。现在,DektakXT继续这一开创性的“第一”的遗产,成为第一个实现单弓设计的手写笔分析器,第一个结合简单可靠的手写笔交换,第一个利用64位并行处理架构来实现最佳的测量和操作效率。
我们的网络研讨会涵盖最佳实践,介绍新产品,为棘手问题提供快速解决方案,并为新应用程序,模式或技术提供想法。
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术,帮助客户选择合适的系统和配件。这种伙伴关系通过培训和延长的服务,在工具销售后很长一段时间内继续下去。
我们训练有素的支持工程师,应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。