革命性的新功能使ContourGT光学表面分析器提供前所未有的横向分辨率
波士顿,2010年11月29日,(业务线)——力量公司(纳斯达克:电流断路器)今天宣布在材料研究协会(夫人)2010年秋季会议雷竞技网页版AcuityXR (TM),一个新颖的光学表面分析器模式相结合的独特的新力量的硬件和软件技术,选择ContourGT (TM)非接触式,3 d光学表面分析器打破光学衍射极限和交付横向分辨率,以前认为不可能实现。
许多纳米级应用程序在半导体、医疗和精密机械加工领域今天有表面特征和缺陷尺寸限制检测或识别由于光学衍射极限。这种微乎其微的特性和缺陷往往直接影响功能,性能,质量和/或制造业产量和最感兴趣的研究人员和生产QA / QC人员。力量分析器系统配备了新的光学表面AcuityXR模式显示的分辨率低于130纳米宽特性,在光学显微镜和前所未有的近三倍比系统没有这个技术更好。此外,AcuityXR使这个新的精度水平,同时保留力量的宽视场和高性能效益非接触式,3 d光学表面分析。与AcuityXR维可重复性,狭窄的结构已被证明提高5倍以上x,展示一个真实的计量有利于技术除了揭示异常精细特征的能力。AcuityXR是一个可选的功能,现在可以力量吗ContourGT-K1,X3和的混合体光学表面分析器。
”AcuityXR结合全新的测量算法,增强计量硬件技术ContourGT-K1,X3和的混合体系统一起提供横向分辨率光学显微镜从未实现,”罗斯问:史密斯先生说,副总裁和总经理力量的手写笔和光学计量单位。“这非凡的新功能,这是专门上可用ContourGT系统,是一个伟大的好处我们当前和潜在客户在半导体、医疗和精密加工应用特征尺寸缩小而对质量的需求不断上升。”
主席马克·r·蒙克力量纳米表面业务,补充道:“AcuityXR建立在行业领先的性能、可重复性和易用性的能力ContourGT产品家族。为市场带来这一前所未有的成就真正展示了力量的持续承诺提供最高的价值nanosurface计量系统为工业和研发客户。”
AcuityXR和ContourGT夫人2010年秋季会议
ContourGT系统配备AcuityXR将展示力量纳米表面布斯(300号)举行的秋季会议夫人在海因斯会议中心在波士顿,MA, 11月30日至12月2日。力量将进行研讨会AcuityXR和其他先进光学表面测量模式周二,11月30日下午六点半在波士顿喜来登酒店,三楼,G灯塔。
关于ContourGT家庭
介绍了在2010年早些时候,ContourGT家庭的非接触式三维光学表面Bruker-patented分析器功能,高亮度双led照明,当结合系统的优越的垂直分辨率,大大提高了灵敏度和稳定性,使精密非接触式三维表面计量困难的应用程序和环境挑战其他WLI-based系统。的ContourGT还新Bruker-developed和新特性Vision64 (TM)操作和分析软件行业最直观的,模块化的用户界面,提供了广泛的表面user-level-customization功能分析计量应用程序。的更多信息AcuityXR或者是ContourGT,或者安排一个演示,请致电+ 1 (520)741 - 1044 ext。3,电子邮件(电子邮件保护)或访问www.bruker-axs.com/contourgt_optical_profilers.html。
关于力量的公司
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来源:力量公司
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