非FM技术新金标准提供最快速高清晰度扫描和奇快短数据
SANTABARA卡利夫,2011年5月2日尺寸快速扫描TM原子力显微镜提供提高成像速度的重大突破而不牺牲纳米分辨率上头尺寸快速扫描用户工作速度比其他商业AFM系统快数百倍,分秒或分数交付结果,而不是时或日交付结果上头快速扫描系统为横跨科学、生物、半导体、数据存储和能源研究市场大型原子规模成像设定新的性能和生产率金标准
雷竞技网页版由对观察和更好理解纳米级材料的日益增长的需求所促动,世界最常用AFM平台最新成员拥有多项技术创新,使快速扫描速度、高图像分辨率和精度完全均衡化。基础高度成功尺寸图标AFM架构快速扫描AFM是一个小技巧扫描系统,提供大小样本测量空气或流水
...尺寸快速扫描Bruker实现AFM技术目标之一,即提高客户生产率而不丧失解析或弹性高品质图像在如此短短的时段实现是一个突破经验 Mark Runch博士,Bruker Nano平面分会会长继续写道 超过三十八项专利为突破火上浇油快速扫描提供研究者独有能力对新应用使用原子力显微镜,
...尺寸快速扫描表示我们对科学界的持续承诺,Rossi,BrukerAFM业务副总裁兼总经理新手快速扫描伴之以最近BrukerAFM技术突破ScanAsyst并峰值QNM提供显著提高生产率和赋能技术,提供纳米级新量化信息,使AFM更易为学术界和业界使用
关于快速扫描
上头尺寸快速扫描系统使用革命性XYZ闭路头高速扫描,同时提供极低流动和低噪声,使AFM更易使用并对所有用户产生更多效果合并这些特征会大幅度缩短稳定时间,使系统获取免人工数据比市场上任何其他AFM速度快数百倍新建快速扫描机、高分辨率摄像头以及自动化激光检测器对齐和综合反馈对齐工具提供更快探针定位和样本导航,从而使用户更容易定位引人兴趣特征最后,软件提供直觉工作流,默认实验模式将高级AFM进程提炼成预配置设置是否使用图标扫描机超低噪声高精度实现子辐射计分辨率和<30pm垂直噪声或使用快速扫描扫描高扫描速率纳米分辨率和<40pm垂直噪声,唯一尺寸快速扫描系统扩展实验室和工业纳米显微镜能力超出任何其他单项研究工具能力
关于Bruker公司NASDAQ:BRKR
雷竞技网页版布鲁克公司是高性能科学仪表和解决方案的主要提供者,用于分子和材料研究以及工业应用分析有关Bruker公司更多信息,请访问网站bruker.com.
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