增强分辨率帮助轮廓3D光显微镜破解误差限制
Tucsson,Ariz.,2011年8月16日
布鲁克南球分队今天宣布 获选为研发100奖acityXR(TM)增强分辨率显微镜技术光学表面剖面器新模式综合专利使用硬件和软件,帮助选择Bruker模型轮廓3D光学显微镜破解光分解限值并交付平面解析法,而平面解析法以前被认为无法实现研发100奖获奖者由独立评委和编辑选择研发杂志类百大技术产品 上年引入市场
Mark R表示:「Bruker很高兴再次获得研发100授标委员会识别unch博士 布吕克南诺表层师长在今年前, 我们设施开发的仪器多获7项研发100奖, 包括4项光度学奖和3项原子力显微镜奖以AcityXR向客户提供先前无法实现光学性能,
罗伯特M布鲁克Stylus光学计量业务副总裁兼总经理Loiterman补充道:“ContourGT系统配有获奖AcityXR技术显示宽度低于130纳米特征解析,三维光学显微镜前所未有。显示半导体、医学和精密机工应用实度益益, 特征尺寸快速缩小, 即便质量需求在增加。”
关于ContourGT3D光学显微镜
unourGT-K1-X3和-X8模型完全可用,AcityXR加入一长串创新清单供Bruker ContourGT非接触3D光学显微镜组使用Bruker权限高双导光化并高垂直解析以极大提高敏感度和稳定性这使得精度三维表层计量难应用和严酷环境对其他光基系统具有挑战性轮廓GT计量法从人工轮廓模型到完全自动化自校制楼层系统不等系统整合Bruker专利Objective64(TM)操作分析软件和行业最直观模块用户界面,这些界面为各种面貌计量应用提供用户级定制能力欲了解更多AcityXR或ContourGT信息或调度演示信息,请调用+1(520)741-1044ext3邮件[email protected]或访问www.bruker-axs.com/contourgt_optical_profilers.html.
关于Bruker公司NASDAQ:BRKR
雷竞技网页版布鲁克公司是高性能科学仪表和解决方案的主要提供者,用于分子和材料研究以及工业应用分析有关Bruker公司更多信息,请访问网站bruker.com.
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