Phoenix-(busiswire)-Jul30,2012-在微镜微分析2012年年度会议上,Bruker今天介绍其扫描电子镜新微分图片从片Mic-C为SEM雷竞技网页版2D和3D高分辨率X射线成像能力可加入第三方SEMs,允许对多应用样本内部微结构进行非损分析,包括复合材料、陶瓷、电子组件、滤波材料、纸张、木头、植物等
布鲁克Mic-C为SEM可附加到大多数SEM模型上而不需修改显微镜系统中包括微扫描器和移动线性级以改变X射线点与对象之间的距离调整X射线图像放大度微扫描器可安装到试样室内取代标准对象持有者直接检测16比CCD相机用于记录对象内部微结构影射典型接触时间为2-10秒/以100-500nA电波投影X射线摄像头冷却并可用512x512或1024x1024像素解析
上头Mic-C为SEM适合分析直径达4毫米和长度达10毫米对象,无需作任何特定准备极集中X射线源和精度旋转级最小步积0.45度,3D中可视化向下至400nm尺寸的细节
上头Mic-C为SEM提供强软件套件包括获取程序、3D重构模块和2D3D数值分析多功能包外加三维传输程序 创建实战视觉模型和电影 虚拟旅行遍历样本卷
布鲁克纳诺分析师部长Thomas Schülein表示:「在布鲁克获取SkyScanNV后,今年早些时候上头Mic-C为SEM雷竞技网页版布鲁克现有的电子显微镜分析工具组合,使客户能对材料研究与生命科学应用进行更全面的样本特征描述。”
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Stefan Langner+49
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