Nanostructural半导体与SEM表征
点播会话- 46分钟
纳米半导体材料的定量分析扫描电子显微镜雷竞技网页版
这个研讨会将讨论纳米半导体材料的定量描述使用扫描电子显微镜(SEM)和能量色散x射线光谱(雷竞技网页版EDS)和菊池衍射传播(跆拳道)技术。
我们将调查的微观结构和元素成分使用FEG-SEM多层半导体材料。雷竞技网页版晶体信息这些薄的多层膜是有用的预测或增强的物理,化学、界面和电子特性的设备。然而,他们的晶体研究是具有挑战性的,因为这些材料复杂和异构体系结构与超细粒度和电子束敏感。雷竞技网页版我们现在使用的利益传播方向对比与扫描电镜成像和映射。在CPU使用应用程序示例,SSD和CIGS太阳能电池,我们的分析功能同轴的跆拳道技术描述半导体纳米多层膜。
这个研讨会将得出一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。
谁应该参加
- SEM表征纳米材料的所有级别的用户感兴趣雷竞技网页版
- FIB /扫描电镜显微镜专家感兴趣的先进的分析技术
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STEM-DF的CIGS太阳能电池(FIB薄板)
EDS智能手机CPU显示地图元素分布不同的组件
演讲者
劳丽Palasse博士
高级应用科学家EBSD力量纳米分析
Purvesh索尼
应用科学家,力量纳米分析
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