新!没有窗户的高角EDS检测器集合与100毫米²椭圆形硅漂移探测器
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新能量色散x射线谱仪
我们宣布释放一个新的大量角EDS检测器和一个椭圆形状的SDD面积100平方毫米,XFlash®6 t - 100椭圆形TEM和茎XFlash®6 - 100椭圆形的SEM和T-SEM。
这个研讨会将通知探测器特性,具体的显微镜探测器几何图形以及相应的数据采集和分析。定性和定量元素映射为不同的大量角EDS设置(图1、2)解释和相关标准EDS获得的结果。
探测器已被证明提供收集的角度老0.4至0.7之间高起飞角度约12°sr TEM /阀杆和角度0.4 sr SEM的集合。的极片为每个特定的显微镜探测器几何优化输入与显微镜厂家的合作。这允许快速和常规元素映射在纳米尺度显微镜性能的前提下,合适的电子探针质量和提供的样品制备。在抑制原子列EDS(图3,[1])以及单原子识别[2]成为可能。
[1]直接原子尺度磁离子测定在室温多铁性材料分区l·基尼et al .,科学报告7,文章编号:1737(2017),开放获取
[2]个人杂原子与x射线光谱识别r·m·斯特劳德et al ., 108年APL, 163101(2016),开放获取
谁应该参加?
- 科学家和应用来自工业和学术界的科学家在显微镜和无机和有机材料的特性雷竞技网页版
- 感兴趣的高效快速高空间分辨率高端EDS TEM和茎
- 感兴趣的标准EDS电子透明标本
图1的元素映射分辨率纳米半导体结构。数据提供:先进的电路工程师
图2 EDS峰半导体结构的分离。数据提供:先进的电路工程师
图3原子列EDS使用叉子超STEM200XE多铁性材料。数据由l·肯尼et al .浴室都柏林
演讲者
博士Meiken Falke
全球产品经理EDS / TEM,力量纳米分析
安迪Kaeppel
高级产品经理EDS、SEM、力量纳米分析
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