NANOSTAR

NANOSTAR具有无与伦比的模块化，是通过小角度x射线散射(SAXS)、掠入射小角度x射线散射(GI-SAXS)、广角x射线散射(WAXS)和纳米学表征纳米结构和纳米结构表面的理想工具。镜调节针孔准直系统产生了一个平行的，理想的圆形光束形状，具有高强度和低寄生散射。超大(XL)样品室可容纳各种专用和第三方样品阶段，在所有条件下测量许多样品类型。最后，采用大、低背景、高灵敏度的二维检测器对各向同性和各向异性样本采集散射信号。

这种独特的x射线源提供了非常稳定和强烈的点聚焦x射线束，而不需要水冷却。由于其坚固的设计，该电源具有3年的保修期。IµS包括集成的MONTEL，最先进的2-D光束整形光学器件，可在样品上获得最高强度。这种并排的多层反射镜设计从源处捕获大实心角度的x射线，并有效地在高度平行和单色光束中重定向。

带有microkrogap的VANTEC-500 2-D探测器^TM该技术满足了专用SAXS系统的所有理想要求。首先，不需要气体，水，或日常维护，不担心强烈的辐射或运动损伤，这使得探测器坚固耐用，非常容易使用。一个大的活动区域(直径14厘米)，以实现巨大的角度覆盖，全视野。难以置信的低背景和高的最大计数率梦幻般的动态范围和灵敏度弱散射样品。出色的空间分辨率，解决紧密间隔的散射特征。没有其他检测器可以为这些应用提供这些理想功能的组合。

小角度x射线散射(SAXS)是由嵌入在不同电子密度的矩阵中的粒子引起的现象。如果粒径在1 nm到200 nm之间，散射角在0°到5°范围内，这取决于所使用的x射线波长。粒子越小，散射角越宽。

在任何介质中，粒子的任何排列都显示出电子密度的差异，这导致在执行SAXS实验时产生特定的模式。除了粒子的大小，SAXS还可以确定它们的形状、它们之间的距离以及与二维图案的大小分布。颗粒可以是溶解的大分子、金属中的沉淀、生物组织中的矿物颗粒和表面活性剂胶束。

与SAXS相比，广角x射线散射(WAXS)在埃级上检查结构，这通常是晶体结构的面间距离。WAXS通常用于分析布拉格x射线衍射(XRD)图，这可以帮助确定晶体结构，结晶度，晶体大小和相组成(相ID)。WAXS数据可以与SAXS数据同时(同时)收集，第二检测器位于更接近样品的位置。

纳米学研究利用集成到NANOSTAR样品室的电机驱动的XY工作台。这允许样品的选定区域通过x射线束自动扫描。强度分布(或其他散射参数)可以用彩色编码的等高线图来显示。

纳米技术可以快速和选择性地检测不均匀样品的相关测点，甚至可以精确定位小样品。完整的纳米成像图像本身的每个单独的点表示由2-D收集的SAXS/WAXS的积分强度。