STEM内置ARGUS成像系统
ARGUS全视神迹返回
仿佛前身Objectimus2检测器头设计内置Argus公司TM向STEM提供SEM成像能力系统。Si二极管前端3Si二极管和二极管中心1Si二极管2提供
- 黑域相似成像
- BrightField类成像时置TKD映射位置
- 以125,000像素/sec速度映射
- 全自动信号优化生成质量和细节不等图像
新型BF成像能力对映射中漂移校正和动态实验中样本近实时可视化特别有用,如现场抗拉测试、加热和电偏向电子透明样本
2.8Mpixel相似DF图像(左侧)缩放20NM金膜高亮面积图像用探测流800pA和加速电压30kV获取66秒主图像缩放视图栏表示400纳米和50纳米
雷竞技网页版DF类BF类图像从各种材料中获取
BF相似图像Ru薄膜3s使用步从1nm获取,探测流400pA和加速电压30kV
超高分辨率BF相似图像Ru薄膜3s获取
类似DF图像Ru薄膜3s使用步数1m获取,探测流800PA和加速电压30kV
4像素平面BF图像Ge-Sb-Te薄膜图像2点05分使用5nm阶梯获取,2nA探针流获取和30kV加速电压获取样本由Profession提供Aaron Lindenberg和他的集团 美国斯坦福大学
4像素平面DF图像Ge-Sb-Te薄膜图像2点05分使用5nm阶梯获取,2nA探针流获取和30kV加速电压获取样本由Profession提供Aaron Lindenberg和他的集团 美国斯坦福大学
8s获取的Ru薄膜BF相似图像1Nm级探测流700PA加速电压30kV
8s获取的Ru薄膜像BF图像0.5Nm检测流700PA加速电压30kV
8s获取的Ru薄膜像DF图象1Nm级探测流700PA加速电压30kV
8s获取的Ru薄膜像DF图象0.5NM检测流700PA加速电压30kV
平面DF图像嵌入Si wifer基底并用稀释法稀释图像14s使用2nm阶梯获取,探测流1.7nA并加速电压30kV多亏Dr.Wolfgang Grünevald来自德国Leica微系统,准备/取TKD样本