M1米斯特拉尔
小型台式微xrf光谱仪
散装材料和涂料
有成本效益的行动
Punti salienti
100µm
最小光斑尺寸
甚至可以解决电路板上的精细结构细节
2 nm-60µm
多层元素分析的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497对层厚度和成分进行具有挑战性的分析;包括具有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中Cu、Zn或Zn中Pb的检出限
焊料、塑料、金属合金中微量元素的RoHS筛选、分析;自动校正材料厚度，PCB组件精确测量点定位
一种紧凑的多用途台式微xrf光谱仪
关键因素
- 灵活的仪器
- 操作简单
- 友好的触摸屏界面
- 获取原始数据
M1 MISTRAL是一种紧凑的台式能量色散微xrf分析仪，多用途使用。M1 MISTRAL易于操作，设计用于工业环境中快速和经济高效的操作，提供关于贵金属合金等材料的元素组成和层厚度以及多层结构的准确信息。雷竞技网页版
根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497对散装和涂料进行分析。在铑靶激发下，化学沉积磷酸镍(NiP)涂层的分析具有较高的精度。
所有珠宝合金、铂族金属或银的确切成分都可以在不到一分钟的时间内测定出来。结果可以输出重量-%或克拉。
该分析可以无标准或基于标准进行，以达到更高的精度水平。各种各样的校准可用于每种应用。
从定位样品到打印报告中的结果-完整的工作流程集成在软件中。同时，通过对原始数据的开放访问，保证了完全的透明度。
掉
M1 MISTRAL的好处
各种各样的元素都可以进行无损测量。不需要样品制备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程的XYZ阶段自动化，只需单击鼠标就可以开始。超快速检测系统提供快速结果。
M1 MISTRAL配备了大面积硅漂移探测器(SDD)，具有卓越的计数率性能和能量分辨率，可将检测极限降低到ppm级别。高性能探测器，数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效的x射线检测，因此快速和准确的分析结果。
M1 MISTRAL易于使用和免维护的设计和强大的分析软件套件甚至允许仅接受过简短培训的人员操作。不需要消耗品或气体。坚固的结构确保最高的稳定性和免维护操作。
Applicazioni
Specifiche
技术细节
激 |
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Max。样本量及重量 |
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探测器 |
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马克西。舞台行程范围 |
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元素范围广 |
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仪器尺寸(宽×深×高) |
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| x射线光斑大小 |
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软件
XSpect Pro分析软件套件
- 仪器控制、数据采集和管理
- 用户可选择触摸屏界面
- 舞台控制与编程
- 金属多层膜的层厚和组成分析
- 定量成分分析，无标准和基于标准的经验模型
- 带有自动峰识别的频谱查看器
- 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
- 报告生成器
- 结果存档
