毫升+

用x射线荧光分析(XRF)可以很容易地测定多层样品的层厚和化学成分。层状样品直接在波长色散x射线荧光光谱仪(WDXRF)上进行分析。S8老虎．

毫升⁺正在扩展SPECTRA⁺波长色散x射线荧光分析(WDXRF)用于单层和多层样品的分析。它可以直接确定层样品的厚度和组成，小到几个原子层(小于1nm)，大到μ m甚至mm范围。

毫升⁺在所有的计算中都使用了完整的基本参数方法。MLplus中厚度和成分的测定是基于SPECTRA的无标校准⁺，即不需要特定的多层标准。然而，任何可用的多层标准都可以用来优化结果。

毫升⁺可用于自动评估后，每一个单一的测量一旦一个模型已经建立。这使得多层分析可用于常规过程控制，例如在生产层状玻璃或涂层钢。