Anasys nanoIR3-s
最高性能s-SNOM和AFM成像
Punti salienti
Anasys nanoIR3-s
布鲁克公司的nanoIR3-s系统结合了散射扫描近场光学显微镜(s-SNOM)和纳米尺度红外光谱(AFM-IR)与集成原子力显微镜(AFM)，都在一个单一的平台。基于Anasys在基于afm的纳米光学表征方面的技术领先地位，nanoIR3-s提供纳米级红外光谱，化学成像和光学属性映射，具有10纳米空间分辨率，可在2D材料样品上演示。该系统还使AFM地形成像和材料属性映射具有纳米级分辨率，使其成为广泛材料科学应用中相关研究的理想仪器。
宽带
nano-FTIR光谱学
提供以前无法获得的飞秒纳米级红外研究。
互补
s-SNOM和AFM-IR技术
在单一平台上实现纳米级化学和光学属性映射。
高分辨率
原子力显微镜
提供相关的电气，机械和热数据。
Caratteristiche
10nm空间分辨率化学成像与光谱学
石墨烯等离子
石墨烯等离子体:石墨烯楔上表面等离子体激元(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左)s-SNOM相位与SPP驻波的线截面;(右)s-SNOM振幅。上图是相位图(左)的3D视图。
高分辨率属性映射
高分辨率属性映射:通过石墨烯薄片的横截面显示低于10nm分辨率的光学属性成像。
最高性能纳米FTIR光谱
超快宽带散射SNOM光谱探测分子振动信息。雷竞技怎么下载聚四氟乙烯(PTFE)的激光干涉图在时域上显示出自由感应衰减形式的相干分子振动(上)。雷竞技怎么下载样品干涉图中突出的特征是由于在得到的频域中C-F模式的对称和反对称模式的敲打(左下)。在单层pNTP上展示了纳米ftir的单层灵敏度(右下)。数据由美国科罗拉多大学博尔德分校Markus Raschke教授提供。
只有nanoIR3-s提供:
- 最高性能的纳米FTIR光谱
- 最高性能的红外SNOM光谱与最先进的纳米红外激光源可用
- 纳米FTIR光谱集成DFG，基于连续介质的激光源宽带同步加速器光源集成
- 用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源
POINTspectra技术
POINTspectra激光器能够在广泛的波长范围内进行光谱和高分辨率光学属性映射。使用nanoIR3-s，生成相关数据是一项简单的任务:
- 在AFM图像中选择要测量的特征
- 测量样品的光谱和选择感兴趣的波长
- 创建高分辨率光学属性图
10nm空间分辨率图像的振幅和相位是在波长范围内的干涉图快速测量实现10nm分辨率利用AFM-IR互补，独特的红外光谱。
