维IconIR
最高性能,大样本nanoIR PeakForce属性映射
Punti salienti
维IconIR
力量的大样本维度IconIR系统结合纳米红外(IR)光谱和扫描探针显微镜(SPM)在一个平台上提供最先进的光谱,成像和属性映射功能用于学术研究和工业用户。将数十年的研究和技术创新,IconIR提供无与伦比的性能的基础上,建立了业内®AFM测量维度的功能图标。系统使相关显微镜和化学增强成像分辨率和单层敏感性,而其独特的大样本架构提供了终极示例为最广泛的应用灵活性。
大样本
最高的性能nanoIR光谱学
跨样本类型和应用程序提供了更好的灵活性和性能。
相关
化学和纳米级属性映射
提供定量nanochemical、纳米机械和nanoelectrical数据。
Sub-10nm
光热光谱分析AFM-IR成像
使最高分辨率与单层灵敏度特性。
Caratteristiche
第一个也是唯一nanoIR功能和性能
在一个系统中,IconIR纳米红外光谱学提供最高的性能,化学成像分辨率,单层的敏感度。
只有维IconIR交付:
- 高性能nanoIR光谱学提供准确和可重复的傅立叶变换红外光谱相关性,< 10纳米化学决议,单层的敏感度
- 相关化学成像与PeakForce攻®纳米机械和nanoelectrical模式
- 最高的性能AFM成像和无与伦比的灵活性与大样本住宿*示例
- 协调应用程序的范围广泛的可用的配件和AFM模式,其中包括新增设的表面敏感AFM-IR模式
*标准的系统支持样品150毫米,与版本可以容纳较大的样本也可用。
最完整的相关显微镜
一起Bruker-exclusive PeakForce开发纳米级属性映射和专有nanoIR光谱学技术维度IconIR系统的大样本平台是唯一适合的相关研究材料和活跃的纳米系统在电或化学反应环境复杂系统具有较强的机械异构性问题。雷竞技网页版
IconIR交付:
- 高级定量属性映射技术
- 最完整的相关量化nanochemical的显微镜解决方案,纳米机械,nanoelectrical表征
Nanochemical (AFM-IR)图像的碳纤维环氧树脂。
Nanothermal (SThM)图像的碳纤维环氧树脂。
Nanoelectrical (PF-KPFM)图像的碳纤维环氧树脂。
最高的性能NanoIR光谱学
高质量resonance-enhanced AFM-IR光谱在不同的网站上收集PS-LDPE共混聚合物,说明材料的高度敏感性和更深的了解纳米材料特性。
力量是光热光谱分析的创新者AFM-IR-based nanoIR光谱学与我们的专利,独特的nanoIR套件模式。这些方式使IconIR提供高速、高性能光谱,与傅立叶变换红外光谱。各种模式支持广泛的测量样品的工业和学术用户。
IconIR交付:
- 最高的性能,丰富,详细实现单分子光谱与红外光谱相关性雷竞技怎么下载
- Resonance-enhanced AFM-IR, nanoIR社区的首选技术,科学出版物的数量最多
- 最高的性能开发AFM-IR光谱学相当于Resonance-Enhanced AFM-IR
最高分辨率化学成像
图标的行业领先的性能和力量的专利利用AFM AFM-IR成像空间分辨率和样本一起提高我们的nanoIR技术,扩展其应用领域尚未解决的光热光谱分析AFM-IR技术。
IconIR提供:
- 小于10纳米化学空间分辨率成像在广泛的样本类型,包括软样品
- 单层薄膜和生物成像的灵敏度的结构
- 一致、可靠和高质量的可发布的数据
- 可靠的表面敏感的化学测量高分子薄膜
高分辨率的化学成像PS-b-PMMA嵌段共聚物在攻AFM-IR模式显示样本地形(一个);红外图像1730 (b);和1492 cm - 1 (c)强调PMMA、PS。面板(b)中的黄色箭头表示化学分辨率小于10纳米。叠加的图像(d)捕捉构成地图。
化学见解的表层
顶级涂料(绿色痕迹)在表面敏感模式;顶级涂层+大部分电影(布朗跟踪)收购了在共振增强模式批量聚酰亚胺薄膜。
利用力量的新专利表面敏感AFM-IR模式,IconIR显著降低化学探测深度大于500纳米至几十纳米,而不再需要无缝结合高空间分辨率和高浆纱切片表面灵敏度化学成像。