化合物半导体的x射线计量
布鲁克为外延层薄膜的QC监控和广泛的半导体薄膜和晶圆的详细研发分析提供x射线计量工具。我们提供专为生产环境的挑战性需求而设计的系统，以及支持当前和未来计量需求的多应用研究工具。
支持
我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务继续下去，直到工具出售很久之后。
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用程序支持和培训，最大限度地提高您的生产力。