ContourX-100光学轮廓仪以一流的价格点为精确和可重复的非接触式表面测量设定了新的基准。该系统占地面积小,采用流线型封装,具有无与伦比的2D/3D高分辨率测量能力,融合了布鲁克数十年的专有白光干涉测量(WLI)创新技术。下一代增强功能包括新的500万像素摄像头和更新的平台,用于更大的拼接能力,以及新的测量模式USI,为精密加工表面,厚膜和摩擦学应用提供了更大的便利性和灵活性。您将找不到比ContourX-100更有价值的台式系统。
ContourX-100轮廓仪是四十多年专有光学创新的高潮,在非接触式表面测量,表征和成像方面处于行业领先地位。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多次分析。ContourX-100在反射率为0.05%至100%的所有地面情况下都很稳定。
凭借数千种定制分析和布鲁克简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,ContourX-100台式针对实验室和工厂车间的生产力进行了优化。硬件和软件相结合,提供了顶级高通量光学性能的流线型访问,完全超越了可比的计量技术。