Hysitron PI 85E
用于扫描电子显微镜的扩展范围原位纳米力学测试仪器
Punti salienti
Hysitron PI 85E SEM picointter
Hysitron PI 85E SEM PicoIndenter扩展了原位力学测试的范围，弥合了纳米级和微尺度表征之间的差距。这种深度感应纳米力学测试系统是专门设计用于利用扫描电子显微镜(SEM, FIB/SEM, PFIB)的先进成像能力，同时进行定量纳米力学测试。其扩展的力范围使研究人员能够准确地测试尺寸大和/或硬结构，这些结构需要更大的载荷来诱导失效和/或断裂。PI 85E仪器提供压痕，压缩，拉伸和疲劳测试横跨整个材料谱(从金属和合金到陶瓷，复合材料和半导体材料)。雷竞技网页版PI 85E的紧凑，低调的架构使其非常适合小室sem，拉曼和光学显微镜，光束线等。
模块化
核心测试技术套件
支持纳米压痕，压缩，张力，疲劳，PTP, E-PTP和电气特性。
至关重要的
扫描电镜配件
在多用户设施中，技术人员和操作人员能够进行可靠的测量。
扩展
力范围
提供高和低负荷位移能力，以测试高强度和高依从性样品。
Caratteristiche
纳米压痕:高精度原位力学测试
表征硬度、蠕变、应力松弛、弹性模量和断裂韧性的近表面特征、界面、局部微观结构和薄膜。
扩展范围的行为探索
碳纳米管结构的变形。
Hysitron PI 85E集成了多种测试模式来表征基本的机械性能，应力-应变行为，刚度，断裂韧性和大范围样品的变形机制。除了Bruker的行业标准测试传感器，PI 85E还提供更高的负载(250 mN)和更大的位移(150µm)能力。高带宽传感器和柔性与先进的控制电子充分优化大规模样品测试，并提供卓越的性能和灵敏度。
一、二、三维纳米结构的表征
ZnO纳米线安装在E-PTP上的变形。
Hysitron PI 85E系统采用专利技术做(PTP)表征一维结构(如纳米线和纳米管)和二维结构(如独立薄膜)的器件。这些结构还可以通过仪器的可选电推拉设备进行电特性分析。PI 85E较大的位移范围也适合测试三维晶格在较大应变下的变形。
Accessori
网络研讨会
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