Hysitronπ89 SEM PicoIndenter利用先进的成像能力的扫描电子显微镜(SEM、FIBSEM PFIB),从而能够执行定量纳米机械测试同时成像。π89年进一步发展力量占市场主导地位的电容传感器技术,使第一个商业现场SEM nanomechanics平台。启用测试技术包括nanoindentation、拉伸测试、支柱压缩,粒子压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能的映射。
Hysitronπ的紧凑设计89年允许最大舞台倾斜和最小工作距离,使最优成像测试期间。π89提供研究人员更大的多功能性和性能比竞争系统:
Hysitronπ89利用力量本质上的专有事实上灵敏度传感器和piezo-driven挠曲位移控制和load-controlled测试:
现场机械数据获得Hysitronπ89同步扫描电镜成像和并排显示。这允许您看到缺陷的影响,机械应变和热或电刺激性能,寿命,耐久性工程材料nanometer-to-micrometer鳞片。雷竞技网页版这种同步使更大范围的分析:
89 Hysitronπ的模块化设计支持一整套创新的原位测试技术和两个旋转和倾斜阶段配置先进的成像和FIB铣削。
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