原位纳米力学测试

做设备

专为纳米线和独立薄膜设计

现在,1D和2D材料可以快速和一致地合雷竞技网页版成,需要新的机械表征技术来评估和优化其机械性能,以便在下一代产品和设备中使用。为了满足为这些新材料提供合适的测试平台的需求,布鲁克开发了推拉(PTP)设备,这是一种原位拉伸设备,可与hyysitron PI系列picindenter仪器一起用于SEM和TEM。

PTP器件的光学图像(左)和PTP器件间隙的SEM图像(右)。
加载/卸载与位移曲线(左),以及PTP设备挠度产生的位移和载荷与时间(右)。注意线弹性行程大于4 μm。

PTP器件是一种可消耗的,mems制造的柔性器件,可以在其上安装纳米管或薄膜样品。一旦制备好,样品被转移到picindenter系统,并施加定量拉伸载荷。力学数据用于计算拉伸性能,同时电子显微镜成像提供微观结构行为的实时视频。该设备的电气版本称为电气推拉(E-PTP),进一步扩展了功能,并在整个拉伸实验中实现四点电气测量。