TKD和STEM兼容Hysitron PI 89
提供电子透明样本分析成像
上头Hysitron PI 89现可用电子透明样本分析成像使用TKCD和STEM检测器进行纳米机测试传输Kikuchi分片技术最近开始应用扫描电子显像机提供10x更高空间分辨率样本,而电子反射分片技术则已经建立起来Hysitron PI 89系统通过快速连接组件可修改创建额外空间以插入样本下检测器,从而获取最佳信号布鲁克专利PTP设备可使用TKD模式抗拉测试为样本提供优稳定性
optimusTKD检测器和高分辨率TKD图像
专利PTP设备为TKCD和STEM图像提供最稳定的样本配置TKD检测器插入样本
布鲁克独家设计OptimusTKD检测器允许用户直接将检测器置于样本下方并发e-FlashEBSD检测器 OPSIMUS可获取最强信号 最小gnomic投射诱变
