Hysitron XPM

Bruker的XPM在纳米力学测试吞吐量、测量分辨率和精度方面树立了新的行业标准。使用XPM，一个下午可以采集的数据比使用传统纳米压痕方法一整年收集的数据还要多。这些独特的性能是由三种行业领先的Hysitron技术的耦合实现的:高带宽静电驱动换能器，快速控制和数据采集电子设备，以及自上而下的原位SPM成像。这些同步技术可以每秒执行6个纳米压痕测量，在创纪录的时间内实现全面的定量纳米力学属性映射和属性分布统计。