一流的触控笔分析器
Bruker的Dektak®触控笔轮廓仪是五十多年专有技术进步的结晶。它们提供可重复、可靠和准确的测量-从传统的台阶高度测量和2D粗糙度表面表征到先进的3D映射和薄膜应力分析。Dektak表面轮廓仪已被广泛接受为测量薄膜厚度，应力，表面粗糙度和形式的金标准，从学术研究到半导体过程控制的不同应用领域。
五十多年的创新剖析
Dektak品牌拥有第一台用于薄膜测量的轮廓机，第一台基于微处理器的轮廓机，第一台具有3D功能的轮廓机，第一台基于pc的轮廓机，以及第一台自动化300mm轮廓机。现在，DektakXT继续这一开创性“第一”的遗产，作为第一个实现单弓设计的触控笔分析器，第一个结合简单可靠的触控笔交换，第一个利用64位并行处理架构来实现最佳测量和操作效率。
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Dektak网络研讨会系列
我们的网络研讨会涵盖最佳实践，介绍新产品，为棘手的问题提供快速解决方案，并为新的应用程序、模式或技术提供想法。
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我们如何提供帮助?
Bruker与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务继续下去，直到工具出售很久之后。
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级，以及应用程序支持和培训，最大限度地提高您的生产力。