薄膜编码元素分析

有很多方法用FTIR光谱分析化学识别胶片和涂层即传输器、缩放全反射器、角反射或红外反射分光镜、极化调制IRRASPMIRRAS)视薄厚度而定,光学属性和辅助子串可优先应用不同的测量模式

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