无机涂层精确应用在生产机械、电气或光学组件时非常重要。层分析使用xRF是一个极佳工具,可确保涂层和层按需组成
XRF可用测定层厚度同时识别并量化图层中存在的元素来描述层特征这使得xRF基础分析成为优化涂层和层的强工具,允许微调其属性以应用目标生产期间涂层的组件也必须检查质量,以确保涂层正确厚度并构造目标使用
自动化进程在有效性和有效性两方面都有好处。上头XMS系统由Bruker Nano分析技术设计成对生产和质量控制线进行自动XRF分析XMS可用于自动分析和检验生成组件层和涂层,为多行业带来效率节约和质量提高
多数机械化步骤引入余压,可能影响制造组件性能压缩压力可设计成金属涂层以阻抗破解传播,而抗拉压力可用以提高半导体传导性雷竞技网页版受限材料显示原子间距变化,可通过X光分片检测到,并通过弹性常量与压力相关