电影晶体
电影晶体
电影晶体
晶体素金属/硝化胶片对设备高级内存性能至关重要
X射线度量法
X射线度量法
Bruker JVX7300LSI系统广泛用于测量高级存储器多晶片晶体性,例如NANDW片和DARM辩证片栈(如ZAZ)。
通过用高强度波束和高级检测器监测关键分片峰的强度、位置和宽度,晶性、相位、纹理和粒度可控制
S通道I通道
s通道可添加小点测试结构图案样本50mmx50mm。超薄晶片相向监控使用可选I通道实现平面XRD测量
晶素超深金属片属性
上头8分解加法布鲁克旗舰X光解析法分析超深多晶素和上下文
通过应用 Coplanar-Diffraction(左侧)和非CoplanDiffraction(右侧),可确定latice参数和晶体尺寸,精度不可逆垂直并平行于样本表面
5nm厚模胶片中观察到高异子素参数和晶体尺寸:垂直晶体尺寸等于薄片厚度,而机内晶体尺寸大于2倍(11.4nm)。
X射线透视技术EM
X射线透视技术EM
记忆设计全新方法正在详细调查TEM分能X射线分光
