空间解析图层宽度分析微XRF
即时会议-60分钟
金属加微XRF分析
深入理解涂层厚度和沉积薄膜组成对生产过程应用各种涂层的制造商至关重要。Bruker空间解析分布能力M4TORNADO微XRF分光计和XMethod涂层分析软件可分析涂层组成和层厚度测量以及涂层分布图
网络研讨会将讨论XMethod图层模型的创建和运用M4TORNADO分析方法焦点将放在不同子串上的金属涂层和各种应用上,如打印电路板上的铜Au/Pd/Ni和玻璃上的金属涂层将比较标定标准结果以显示精度和可复制性
webNar会议将轮播15分钟QA会议 专家解答你的问题
由谁出席
- 质量控制专家确保电子行业薄金属涂层的厚度和组成
- 聚合质量控制技术员负责多氯联苯涂层服务质量保证和故障分析
- 研发研究人员
sn、Br、Au、Bi、Cu、Ni和Si元素分布
空间分布式(左侧)分析玻璃基底 Al-Cu-al
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