快速、准确和精确的量化结果使用一个环形硅漂移探测器:力量的XFlash FlatQUAD

硅漂移探测器(sdd)已经成为标准仪器能量色散x射线光谱(EDS利用扫描电子显微镜(sem)和电子探针分析仪(电子探针)。环形SDDXFlash^®FlatQUAD是一个独特的SDD极片和样本之间插入,而不是在一个倾斜的端口扫描电镜。因此,它有一个大立体角(1.1 sr),通常是100倍使用可用的立体角10毫米²SDD常规设置。x射线收集从四个单独的检测器部分和信号并行处理四个检测单位,允许高计数率在低空载,导致最大输出计数率超过每秒2400000项(cps)高速映射和快速光谱收集。此外,这样一个几何最小化阴影效果,因此适合从地形上复杂的分析,三维样本和梁敏感。即使在最低的电子束电流(< 10 pA)、裸梁敏感和不导电样品可以研究在高真空下自然的状态。

在这个网络研讨会,我们将使用示例XFlash^®FlatQUAD快速和可靠的量化结果,包括标准的基础和标准免费的量化方法。相比,结果将公布的已知结果使用其他分析技术。此外,高速将映射的例子,如梁敏感样品高地形或一个完整的薄片可以在几分钟内被映射。

• 科学家从所有EDS技术SEM分析领域感兴趣
• 研究人员从地形上复杂,三维样本和梁敏感

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