高频粒子分析使用ESPRIT软件特征
即时会议-37分钟
扫描电子显微镜上带分能X射线分光分析粒子
分布式X射线分解法开发扩展了可能的应用范围。具体地说,有可能扫描和分析大采样区数粒子的统计性强。这些分析信息对各种应用都很重要,如滤镜分析、石棉识别、钢封整合、矿学研究、枪弹残留物、地球科学、矿物学和采矿等。自动化特征分析综合能力快速与化学分析进行形态特征描述。超过30种不同的形态特性用于识别各种粒子,这些粒子可过滤或全部或特定子集后可按组成化学分析分类分组
WebNar威尔聚焦
- 现场特征演示: 如何安装并运行粒子分析短短几分钟
- 检测感兴趣粒子及其形态分析
- 自动光谱获取所选粒子
- 粒子化学分类基于组成
- 确定具体感兴趣的领域供进一步分析
- 特征分析内地图导入和数据处理
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何必旁听
- 拓展EDS分析知识
- 深入了解高级特征分析选项扩展SEM分析能力
- 与专家讨论自己的应用
特征工作空间ESPRIT粒子、specra和文理学特性都关联在一起
直方图分类从分析zn-Pb-Sn-AgOre
特征二进制特征描述过程和属性ESPRIT软件
讲演者
maxPatzschke
应用科学家EDSBrukernao分析
博士安德鲁门西斯
高级应用科学家地质挖掘学Bruker Nano分析
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